株式会社フォトンデザイン

株式会社フォトンデザイン
当社は、分光器や顕微鏡、ラマン測定装置、フォトルミネッセンス測定装置などの
光学測定装置の設計、製造、販売を行っております。

 NEW  最新情報

§ 一般の最新情報 §

  • 【2019年8月11日(日)】
      ただいまメンテナンス中のため、eメールによるお問い合わせ受付を中止しております。ご不便をおかけしますが、電話、またはFaxをご利用下さい。
  • 【2019年8月1日(木)】
      夏季(お盆中)の営業日のご案内:
      暑中お見舞い申し上げます。弊社はカレンダー通り営業いたします。
  • 【2019年7月30日(火)】
      Windows10 への対応状況を更新しました。
  • 【2019年7月30日(火)】
      沿革を更新しました。
  • 【2019年4月11日(木)】
      ゴールデンウィーク中の営業日のご案内:弊社はカレンダー通り営業いたします。
  • 【2018年12月7日(金)】
      年末年始休業のご案内を更新しました。
  • 【2018年8月1日(水)】
      夏季(お盆中)の営業日のご案内:
      暑中お見舞い申し上げます。弊社はカレンダー通り営業いたします。
  • 【2018年4月23日(月)】
      ゴールデンウィーク中の営業日のご案内:弊社はカレンダー通り営業いたします。
  • 【2018年2月19日(月)】
      応用物理学会に出展いたします。
      会場:早稲田大学 西早稲田キャンパス、期間:2018年3月17(土) 〜 20(火)
  • 【2017年11月30日(木)】
      年末年始休業のご案内を更新しました。
  • 【2017年7月31日(月)】
      夏季(お盆中)の営業日のご案内:
      暑中お見舞い申し上げます。弊社はカレンダー通り営業いたします。
  • 【2017年5月19日(金)】
      一部の製品画像を修正、更新しました。
      製品のご案内内容については変更ございません。
  • 【2016年12月5日(月)】
      年末年始休業のご案内を更新しました。
  • 【2016年7月29日(金)】
      夏季営業日のご案内:弊社はカレンダー通り営業いたします。
  • 【2016年4月11日(月)】
      ゴールデンウィーク中の営業日のご案内:弊社はカレンダー通り営業いたします。
  • 【2016年2月15日(月)】
      応用物理 JSAP EXPO Spring 2016に出展いたします。
      会場:東工大 大岡山キャンパス、期間:2016年3月19(土) 〜 22(火)
  • 【2015年11月23日(月)】
      産業交流展2015に出展いたしました。
      会場:東京ビックサイト西1・2ホール
      開催期間:2015年11月18(水) 〜 20(金)
      ご来場頂きまして有難うございました。
  • 【2015年7月22日(水)】
      夏季(お盆中)の営業日のご案内:
      暑中お見舞い申し上げます。弊社はカレンダー通り営業いたします。
  • 【2015年4月2日(木)】
      ゴールデンウィーク中の営業日のご案内:弊社はカレンダー通り営業いたします。
  • 【2015年3月16日(月)】
      応用物理学会に出展いたしました。
      会場:東海大学 湘南キャンパス、期間:2015年3月11(水) 〜 14(土)
  • 【2014年11月12日(水)】
      「第66回九都県市首脳会議」「平成26年九都県市のきらりと光る産業技術表彰」において、弊社のSiC半導体評価装置「SemiScope」が表彰されました。
  • 【2014年11月12日(水)】
      テレビ朝日/東京サイトにおいて、弊社のSiC半導体評価装置「SemiScope」が紹介されました。
  • 【2014年10月】
      シリコンフォーラム2014に出展いたしました。
      開催期間は2014年10月19(日) 〜 22(水)
  • 【2014年10月】
      ホームページを全面リニューアルしました。
  • 【2014年 8月】
      新事務所に移転して1年が経過しました。これからも宜しくお願い致します。
  • 【2014年 7月】
      夏季休業のご案内:弊社はカレンダー通り営業いたします。
  • 【2013年10月】
      東京都ベンチャー技術大賞において、弊社のSiC半導体評価装置「SemiScope」が大賞を受賞しました。
  • 【2013年 8月】
      このたび、新事務所に移転となりました。

§ 製品の更新情報 §

  • 【2018年?月27日(木)】
      PLイメージング装置 SemiScope の代表モデルが、バージョンアップされ、「PLI-210」として発売しました。
  • 【2018年9月27日(木)】
      PLイメージング装置 SemiScope シリーズに、カラー画像対応モデル「PLI-210D」が追加されました。
  • 【2018年9月27日(木)】
      PLイメージング装置 SemiScope の高速モデル「PLI-SR」を更新しました。
  • 【2018年9月25日(火)】
      スペクトル線分析対応 SemiScope、「PLIS-TEC」の表記が、「PLI-TEC」となっていたのを修正しました。
  • 【2018年9月19日(水)】
      9月より、PLイメージング装置 SemiScope の新シリーズ「PLIS-TEC」、および「PLI-50」を発売しました。
      SemiScope の総合カタログもご用意しております。カタログ請求は、お問い合わせページからどうぞ。
  • 【2018年4月4日(水)】
      顕微分光測定ヘッド「COMMET」の新カタログが完成しました。カタログ請求は、お問い合わせページからどうぞ。
  • 【2016年9月15日(木)】
      分光器コントローラ MCU-301 の設定ソフトの対応OSの情報を変更しました。
  • 【2016年2月25日(木)】
      分光器コントローラ MCU-301 の設定ソフトのダウンロードのファイル形式をzipファイルに変更しました。
  • 【2015年12月4日(金)】
      分光器コントローラ MCU-301 の取扱説明書のダウンロードがリンク切れになっているのを修正しました。お客様には大変ご迷惑をおかけしました。
  • 【2015年3月27日(金)】
      PLスペクトルマッピング測定装置「DUVPL」の新カタログが完成しました。カタログ請求は、お問い合わせページからどうぞ。
  • 【2015年3月12日(木)】
      スペクトログラフ「PDP320」の新カタログが完成しました。カタログ請求は、お問い合わせページからどうぞ。
  • 【2015年3月12日(木)】
      ファイバ入射装置「FN11」の新カタログが完成しました。カタログ請求は、お問い合わせページからどうぞ。
  • 【2015年3月12日(木)】
      ファイバ入射装置「FN11」のサムネイル画像を更新しました。
  • 【2015年1月8日(木)】
      顕微分光測定ヘッド「COMET」の新カタログが完成しました。カタログ請求は、お問い合わせページからどうぞ。
  • 【2014年12月22日(月)】
      SiC評価用PLイメージング装置「SemiScope」のデモルームを設置しました。サンプル測定や装置見学等、ご相談下さい。
  • 【2014年10月】
      MCU-301の詳細を掲載しました。
  • 【2014年10月】
      ホームページのリニューアルに伴い、製品一覧と紹介を更新しました。

 HOT  SiC評価用PLイメージング装置「 SemiScope 」のご案内

SiC評価用PLイメージング装置 SemiScope PLI-200
SiC評価用PLイメージング装置
SemiScope

 用途に合わせて、
   3つのモデルを
     ご用意しました。

 ● PLI-200 標準モデル
 ● PLI-SR 高速モデル
 ● PLIS-200 スペクトル測定機能搭載モデル

写真は、標準モデルの「PLI-200」です。
*
2013年(第14回)
東京都ベンチャー技術大賞
大賞を受賞!!


SiC評価用PLイメージング装置 SemiScopeは、1μm以下の分解能でフォトルミネッセンス(PL)画像を測定することができるPLイメージング装置です。試料を移動させながらイメージング測定を行うタイリング機能を用いることで、約33億画素の解像度で6インチウェハ全面のPL画像を得ることができます。SemiScopeは、SiC半導体PLイメージング測定ができる世界で唯一の製品です*。
*2014年7月1日現在。弊社の調査による。

*

株式会社フォトンデザイン
Copyright ©2003-2014 PHOTON Design Corporation. All right reserved.

Adobe Reader はこちらからダウロードできます。  Get Acrobat Reader web logo

▲PHOTON Design ホーム   ▲アクセスマップ   ▲お問い合わせ