株式会社フォトンデザイン PHOTON Design

当社は、分光器や顕微鏡、ラマン測定装置、フォトルミネッセンス測定装置などの
光学測定装置の設計、製造、販売を行っております。

新型コロナウィルス感染症への当社の対応について＜こちらよりご覧下さい＞

NEW 　最新情報

§ 一般の最新情報 §

【2022年12月28日(水)】
　年末年始休業のご案内を更新しました。
【2021年8月3日(火)】
　新型コロナウィルス感染症への当社の対応を更新しました。
【2021年3月26日(金)】
　新型コロナウィルス感染症への当社の対応を更新しました。
【2021年1月8日(金)】
　新型コロナウィルス感染症への当社の対応を更新しました。
【2020年12月11日(金)】
　年末年始休業のご案内を更新しました。
【2020年7月22日(水)】
　夏季休業のご案内を更新しました。
【2020年6月22日(月)】
　新型コロナウィルス感染症への当社の対応を更新しました。
【2019年12月20日(金)】
　年末年始休業のご案内を更新しました。
【2019年8月1日(木)】
　夏季（お盆中）の営業日のご案内：
　暑中お見舞い申し上げます。弊社はカレンダー通り営業いたします。
【2019年7月30日(火)】
　Windows10 への対応状況を更新しました。
【2019年7月30日(火)】
　沿革を更新しました。
【2019年4月11日(木)】
　ゴールデンウィーク中の営業日のご案内：弊社はカレンダー通り営業いたします。
【2018年12月7日(金)】
　年末年始休業のご案内を更新しました。
【2018年8月1日(水)】
　夏季（お盆中）の営業日のご案内：
　暑中お見舞い申し上げます。弊社はカレンダー通り営業いたします。
【2018年4月23日(月)】
　ゴールデンウィーク中の営業日のご案内：弊社はカレンダー通り営業いたします。
【2018年2月19日(月)】
　応用物理学会に出展いたします。
　会場：早稲田大学　西早稲田キャンパス、期間：2018年3月17(土) ～ 20(火)
【2017年11月30日(木)】
　年末年始休業のご案内を更新しました。
【2017年7月31日(月)】
　夏季（お盆中）の営業日のご案内：
　暑中お見舞い申し上げます。弊社はカレンダー通り営業いたします。
【2017年5月19日(金)】
　一部の製品画像を修正、更新しました。
　製品のご案内内容については変更ございません。
【2016年12月5日(月)】
　年末年始休業のご案内を更新しました。
【2016年7月29日(金)】
　夏季営業日のご案内：弊社はカレンダー通り営業いたします。
【2016年4月11日(月)】
　ゴールデンウィーク中の営業日のご案内：弊社はカレンダー通り営業いたします。
【2016年2月15日(月)】
　応用物理 JSAP EXPO Spring 2016に出展いたします。
　会場：東工大　大岡山キャンパス、期間：2016年3月19(土) ～ 22(火)
【2015年11月23日(月)】
　産業交流展2015に出展いたしました。
　会場：東京ビックサイト西１・２ホール
　開催期間：2015年11月18(水) ～ 20(金)
　ご来場頂きまして有難うございました。
【2015年7月22日(水)】
　夏季（お盆中）の営業日のご案内：
　暑中お見舞い申し上げます。弊社はカレンダー通り営業いたします。
【2015年4月2日(木)】
　ゴールデンウィーク中の営業日のご案内：弊社はカレンダー通り営業いたします。
【2015年3月16日(月)】
　応用物理学会に出展いたしました。
　会場：東海大学　湘南キャンパス、期間：2015年3月11(水) ～ 14(土)
【2014年11月12日(水)】
　「第66回九都県市首脳会議」「平成26年九都県市のきらりと光る産業技術表彰」において、弊社のSiC半導体評価装置「SemiScope」が表彰されました。
【2014年11月12日(水)】
　テレビ朝日／東京サイトにおいて、弊社のSiC半導体評価装置「SemiScope」が紹介されました。
【2014年10月】
　シリコンフォーラム2014に出展いたしました。
　開催期間は2014年10月19(日) ～ 22(水)
【2014年10月】
　ホームページを全面リニューアルしました。
【2014年 8月】
　新事務所に移転して１年が経過しました。これからも宜しくお願い致します。
【2014年 7月】
　夏季休業のご案内：弊社はカレンダー通り営業いたします。
【2013年10月】
　東京都ベンチャー技術大賞において、弊社のSiC半導体評価装置「SemiScope」が大賞を受賞しました。
【2013年 8月】
　このたび、新事務所に移転となりました。

§ 製品の更新情報 §

【2018年?月27日(木)】
　PLイメージング装置 SemiScope の代表モデルが、バージョンアップされ、「PLI-210」として発売しました。
【2018年9月27日(木)】
　PLイメージング装置 SemiScope シリーズに、カラー画像対応モデル「PLI-210D」が追加されました。
【2018年9月27日(木)】
　PLイメージング装置 SemiScope の高速モデル「PLI-SR」を更新しました。
【2018年9月25日(火)】
　スペクトル線分析対応 SemiScope、「PLIS-TEC」の表記が、「PLI-TEC」となっていたのを修正しました。
【2018年9月19日(水)】
　9月より、PLイメージング装置 SemiScope の新シリーズ「PLIS-TEC」、および「PLI-50」を発売しました。
　SemiScope の総合カタログもご用意しております。カタログ請求は、お問い合わせページからどうぞ。
【2018年4月4日(水)】
　顕微分光測定ヘッド「COMMET」の新カタログが完成しました。カタログ請求は、お問い合わせページからどうぞ。
【2016年9月15日(木)】
　分光器コントローラ MCU-301 の設定ソフトの対応OSの情報を変更しました。
【2016年2月25日(木)】
　分光器コントローラ MCU-301 の設定ソフトのダウンロードのファイル形式をzipファイルに変更しました。
【2015年12月4日(金)】
　分光器コントローラ MCU-301 の取扱説明書のダウンロードがリンク切れになっているのを修正しました。お客様には大変ご迷惑をおかけしました。
【2015年3月27日(金)】
　PLスペクトルマッピング測定装置「DUVPL」の新カタログが完成しました。カタログ請求は、お問い合わせページからどうぞ。
【2015年3月12日(木)】
　スペクトログラフ「PDP320」の新カタログが完成しました。カタログ請求は、お問い合わせページからどうぞ。
【2015年3月12日(木)】
　ファイバ入射装置「FN11」の新カタログが完成しました。カタログ請求は、お問い合わせページからどうぞ。
【2015年3月12日(木)】
　ファイバ入射装置「FN11」のサムネイル画像を更新しました。
【2015年1月8日(木)】
　顕微分光測定ヘッド「COMET」の新カタログが完成しました。カタログ請求は、お問い合わせページからどうぞ。
【2014年12月22日(月)】
　SiC評価用PLイメージング装置「SemiScope」のデモルームを設置しました。サンプル測定や装置見学等、ご相談下さい。
【2014年10月】
　MCU-301の詳細を掲載しました。
【2014年10月】
　ホームページのリニューアルに伴い、製品一覧と紹介を更新しました。

HOT 　SiC評価用PLイメージング装置「 SemiScope 」のご案内

SiC評価用PLイメージング装置
SemiScope

用途に合わせて、
　　３つのモデルを
　　　　ご用意しました。

● PLI-200　標準モデル
● PLI-SR　高速モデル
● PLIS-200　スペクトル測定機能搭載モデル

写真は、標準モデルの「PLI-200」です。

２０１３年（第１４回）
東京都ベンチャー技術大賞
大賞を受賞！！

SiC評価用PLイメージング装置 SemiScopeは、1μｍ以下の分解能でフォトルミネッセンス（PL）画像を測定することができるPLイメージング装置です。試料を移動させながらイメージング測定を行うタイリング機能を用いることで、約33億画素の解像度で6インチウェハ全面のPL画像を得ることができます。SemiScopeは、SiC半導体PLイメージング測定ができる世界で唯一の製品です*。
*2014年7月1日現在。弊社の調査による。

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HOT SiC評価用PLイメージング装置「 SemiScope 」のご案内

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